Technika występuje w dwóch wariantach: AM-KPFM (modulacja amplitudy) oraz FM-KPFM (modulacja częstotliwości), różniących się metodą detekcji sygnału.
Zastosowania KPFM znalazła zastosowanie w różnych dziedzinach, np.: materiały półprzewodnikowe – mapowanie różnic pracy wyjścia między ziarnami i defektami w nanostrukturach półprzewodnikowych. korozja i powłoki ochronne – ocena lokalnych zmian potencjałów związanych z procesami korozji. materiały dielektryczne – pomiar rozkładu ładunku i lokalnych pól na powierzchni.
Historia Technika ta jest rozwinięciem elektrometru kwadrantowego, zwanego sondą Kelwina (na cześć jego wynalazcy), służącego do dokładnego pomiaru różnic potencjałów kontaktowych między materiałami przewodzącymi. W latach 90. XX wieku metoda została połączona z mikroskopią siły atomowej, umożliwiając nanoskalowe mapowanie potencjałów powierzchniowych.
Zobacz też
fotowoltaiczny potencjał powierzchniowy mikroskop sił atomowych mikroskop SPM
Przypisy
Kategoria:Mikroskopy