Dzięki wysokiej czułości w paśmie miękkich promieni X (2-15 keV), urządzenie mogło wykrywać zarówno małe rozbłyski, jak i zjawiska będące zapowiedziami takich rozbłysków. W paśmie twardych promieni X (15-200 keV) przyrząd wykrywał rozbłyski o intensywności 10−8 erg/cm²/s.
Spektrometr RESIK (REntgenowsky Spektrometr s Izognutymi Kristałami – spektrometr rentgenowski z wypukłymi kryształami) Przyrząd powstał przy współpracy polskiego CBK PAN, rosyjskiego IZMIRAN, Mullard Space Science Laboratory i Rutherford Appleton Laboratory z Wielkiej Brytanii, Naval Research Laboratory z USA). Spektrometr badał linie spektralne silnie zjonizowanych atomów argonu, magnezu, krzemu, siarki, wapnia, żelaza, potasu, i niklu. Przyrząd pracował w następujących pasmach: 11,23-12,93 nm; 12,74-14,42 nm; 14,36-16,30 nm; 16,53-20,29 nm; 21,54-24,45 nm; 24,80-30,43 nm, 33,69-38,79 nm; 38,21-43,26 nm;