co najmniej dwukrotny pomiar w mikroskopie MFM przeprowadzony na różnych wysokościach nad próbką umożliwia rozdzielenie informacji o topografii próbki (góry/doliny) od informacji na temat jej budowy magnetycznej: oddziaływanie magnetyczna maleje z odległością dużo słabiej niż siły van der Waalsa – znając charakter zmienności obu sił od odległości możemy poprzez rozwiązanie prostego układu równań otrzymać obie informacje. tworzenie menisku wody ma niewielki wpływ na obraz mierzony w trybie kontaktowym
Linki zewnętrzne Zastosowanie w nanotechnologii
Kategoria:Mikroskopy Kategoria:Urządzenia elektroniczne