La sonda di emissione fotonica è uno strumento che si usa per misurare segnali temporizzanti nei dispositivi a semiconduttori. Le misurazioni dei tempi di emissione fotonica sono eseguite sul lato posteriore del dispositivo a semiconduttori. Il substrato del dispositivo in analisi deve essere prima assottigliato meccanicamente. Il dispositivo viene montato su un piatto traslatore lungo gli assi X-Y in una chiusa che lo scherma da tutte le sorgenti luminose. Il dispositivo viene poi collegato a stimoli elettrici attivi. Lo schema di stimolazione viene continuamente iterato ed un impulso di azionamento viene inviato allo strumento sonda di emissione fotonica per informarlo quando lo schema di prova si ripete. Questa sonda funzione come un oscilloscopio di campionatura, e viene utilizzato per l'analisi dei guasti dei semiconduttori.
Teoria di funzionamento Quando lo schema di stimolazione elettrica viene applicato iterativamente al dispositivo da controllare, i transistori interni si accendono e si spengono. Quando i transistori nMOS e pMOS si accendono e si spengono emettono dei fotoni. Queste emissioni di fotoni sono registrate da un rivelatore sensibile ai fotoni. Contando il numero di fotoni emessi da uno specifico transistor in un intervallo di tempo, può essere costruito un istogramma fotonico. L'istogramma fotonico indica un aumento nell'emissione fotonica durante i tempi di transizione di acceso o spento. Rivelando le emissioni fotoniche congiunte di coppie di transistor a canali -p e -n contenuti in una porta logica, è possibile utilizzare il diagramma che ne risulta per stabilire la locazione temporale dei lati in salita e in discesa del segnale su quel punto. La forma d'onda prodotta non è rappresentativa di una reale tensione, ma ne rappresenta accuratamente la derivata, con i picchi fotonici che sono osservati solamente ai lati.
Voci correlate Analisi dei guasti
Categoria:Analisi dei semiconduttori