PIXE (Particle Induced X-Ray Emission) — метод определения элементного состава материала или образца. Он основан на регистрации рентгеновского излучения, возникающего при облучении образца пучком ионов.
Суть метода На материал направляют сфокусированный пучок протонов. При взаимодействии с атомами образца они могут вытеснять электроны с внутренних оболочек. Это создаёт вакансии, которые впоследствии заполняются электронами с более высоких уровней энергии, в результате чего возникает характерное рентгеновское излучение, специфичное для каждого элемента в образце.
Некоторые области применения PIXE Металлургия Метод используют для исследования чистоты и состава различных металлов и сплавов. Керамика PIXE помогает выявлять и количественно оценивать примеси, которые влияют на термостойкость и структурную целостность керамических материалов. Полимеры Метод позволяет обнаруживать добавки и наполнители, которые используются для улучшения свойств полимеров. Композитные материалы PIXE играет ключевую роль в анализе этих материалов, предоставляя детальные карты элементов. Экология Метод используют для анализа загрязняющих веществ, обнаруживая следы элементов в образцах воздуха, воды и почвы. Биологические исследования PIXE применяют для изучения биологических тканей, предоставляя ценные данные об элементном составе на микроуровне.
Литература
Категория:Материаловедение Категория:Методы экспериментальной физики Категория:Экспериментальная физика элементарных частиц