Ла́зерная рентге́новская микроскопи́я (flash diffractive imaging, Femtosecond diffractive imaging) — разновидность рентгеноструктурного анализа, основанного на дифракции рентгеновских лучей на исследуемом объекте. В отличие от традиционного рентгеноструктурного анализа, исследуется одиночные молекулы и их сочетания.
Для получения и дальнейшей регистрации дифракционной картины на одиночном объекте требуется: высокая концентрация энергии излучения на исследуемом объекте как из-за его размера (традиционный рентгеноструктурный анализ имеет дело с кристаллами из исследуемых объектов), так и из-за ограниченной чувствительности принимающей аппаратуры (при недостаточной энергии не удастся зафиксировать картину); малое время экспонирования, так как вследствие высокой концентрации энергии объект неизбежно разрушается излучением. Характерные временные интервалы — несколько фемтосекунд (10−15 с); высокая пространственная когерентность излучения (длина когерентности должна быть по крайней мере сравнима с длиной оптического пути прибора), в противном случае из-за малого времени экспонирования возникающее искажение фазы не позволит сформировать устойчивую дифракционную картину.
См. также Рентгеновское излучение Рентгеновский лазер Лазер Вынужденное излучение Рентгеновская оптика
Литература Henry N. Chapman, et al Femtosecond diffractive imaging with a soft-X-ray free-electron laser // Nature Physics 2, 839—843 (2006) doi:10.1038/nphys461 pdf Chapman, Coherent X-Ray Diffractive Imaging at LCLS, FLASH, and ALS, 2007
Ссылки Рентгеновский микроскоп взорвал лазером объекты наблюдения, Леонид Попов, 15 ноября 2006 Scientists capture nanoscale images with short, intense X-ray laser // LLNL, November 12, 2006
Категория:Рентгеновская оптика Категория:Микроскопия Категория:Лазерные микроскопы