Profilometr stykowy Profilometr stykowy umożliwia pomiar powierzchni próbki w trzech wymiarach. Badanie polega na kontaktowym pomiarze profilu powierzchni z wysoką rozdzielczością pionową. Podczas pomiaru następuje stykanie się elementu roboczego (igły) z powierzchnią badanej próbki. Igła pomiarowa przesuwa się po powierzchni ze stałą prędkością, a jej pionowe przemieszczenia są rejestrowane jako sygnały elektryczne lub optyczne. Standardowy profilometr może mierzyć małe pionowe elementy o wysokości od 10 nm do 1 mm. Pozycja igły generuje sygnał analogowy, który jest przetwarzany na sygnał cyfrowy, zapisywany, analizowany i wyświetlany. Promień igły wynosi od 20 nm do 50 μm, a rozdzielczość pozioma jest kontrolowana przez prędkość skanowania i częstotliwość próbkowania sygnału danych. Siła nacisku igły może wynosić od mniej niż 1 do 50 mg. Jako wynik badania otrzymuje się liczbowe wartości parametrów profilu chropowatości lub profilogram o znanym powiększeniu. Za pomocą tego urządzenia można zbadać chropowatość, topografię i morfologię powierzchni oraz grubość warstw powierzchniowych.